客戶反饋在批量生產(chǎn)階段，32.768KHz晶振不起振，導(dǎo)致所生產(chǎn)的智能鎖開機(jī)系統(tǒng)紊亂，無法正常使用。

通過與客戶溝通，了解到：該類型智能鎖開機(jī)后，芯片捕捉32.768KHz晶振提供的時(shí)鐘信號(hào)，完成系統(tǒng)診斷無誤后，方可正常開機(jī)。問題就發(fā)生在芯片捕捉時(shí)鐘信號(hào)失敗這個(gè)環(huán)節(jié)，因此判定晶振不起振。

客戶選用的為我司生產(chǎn)的晶振32.768KHz，負(fù)載電容CL=12.5pF, 調(diào)整頻差：±20PPM。我司取回懷疑為不良品的晶振進(jìn)行單體測(cè)試，結(jié)果顯示各項(xiàng)電氣參數(shù)均屬于正常范圍。

我司工程師與客戶現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試智能鎖上電后晶振工作狀態(tài)，發(fā)現(xiàn)智能鎖開機(jī)系統(tǒng)紊亂現(xiàn)象重現(xiàn)，但測(cè)得晶振處于工作狀態(tài)，頻率信號(hào)已輸出，但芯片卻無法成功捕捉。

分析該型號(hào)芯片沒有對(duì)應(yīng)該晶振輸出的頻率范圍，導(dǎo)致開機(jī)失敗。建議客戶核對(duì)芯片型號(hào)并確認(rèn)所需晶振類型。最終發(fā)現(xiàn)客戶所需32.768KHz晶振負(fù)載電容應(yīng)為7pF,這個(gè)參數(shù)已經(jīng)在芯片應(yīng)用方案中有明確注明。

更換為負(fù)載電容CL為7pF的32.768KHz晶振之后，智能鎖開機(jī)正常，不良現(xiàn)象不再重現(xiàn)。

注：

1、32.768KHz晶振常用負(fù)載電容CL為12.5pF，但同時(shí)也存在6pF、7pF、9pF等負(fù)載。選擇哪種負(fù)載電容CL主要取決于芯片對(duì)晶振的要求。

2、經(jīng)驗(yàn)證，若32.768KHz晶振的負(fù)載電容CL選錯(cuò)，無法通過調(diào)整外接電容值大小來改善設(shè)備故障問題。