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Bruker 探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT(一)、概述布魯克DektakXT（探針式表面輪廓儀）設計，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列長達四十年的表面測量技術(shù)
Bruker 探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT
(一)、概述
布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列長達四十年的表面測量技術(shù)。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、科學研究和材料科學領(lǐng)域大顯身手。
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